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二手半导体设备SOPRA Gonio bench分光椭偏仪
宝子们！今天解锁半导体薄膜检测的 “精准小雷达”——SOPRA Gonio bench 分光椭偏仪！它可是给薄膜 “量体裁衣” 的专家，不管是研发测样还是生产质检都超靠谱，快一起扒扒它的 “硬核技能” 吧🔍
作为专注薄膜表征的 “细节控”，它的核心参数超能打！波长测量范围直接覆盖 200-1700nm（紫外到近红外），不管是几埃（Å）厚的超薄氧化层，还是微米级的钝化膜、光刻胶膜，都能精准 “捕捉”✨ 入射角可在 45-90° 之间灵活调节，搭配 ±0.01° 的偏振态控制精度，连薄膜的折射率（n）、消光系数（k）都能算得明明白白，厚度测量精度更是稳到 ±0.1Å，误差小到可以忽略不计～
适配性也超赞！不管是硅、蓝宝石、碳化硅等常见衬底，还是金属膜、介质膜、半导体薄膜，它都能轻松 “识别”💡 操作还很友好，自带自动光学校准功能，软件界面直观易懂，新手练几次就能上手，不用对着复杂按钮犯愁～
不管是高校实验室做薄膜研发，还是厂商做生产质量管控，这款二手椭偏仪都能扛起 “检测大旗”，帮你把好薄膜工艺的每一道关！
#分光椭偏仪#
